掃描電鏡

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微儀光電（天津）有限公司是一家集顯微鏡、顯微鏡自動(dòng)化、顯微專用攝像系統(tǒng)及圖像分析系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)及銷售為一體的多元化高科技企業(yè)。公司擁有一支專業(yè)從事顯微儀器應(yīng)用技術(shù)研究，新產(chǎn)品新技術(shù)開發(fā)的工程技術(shù)團(tuán)隊(duì)。在傳統(tǒng)光學(xué)顯微成像技術(shù)上融入了攝像計(jì)算機(jī)分析系統(tǒng)及機(jī)械自動(dòng)化系統(tǒng)，不斷開發(fā)出能滿足科研教學(xué)、機(jī)械制造、電子材料、紡織纖維、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、航空航天、計(jì)量科學(xué)、軍事公安、農(nóng)林牧漁等幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行研究分析的新產(chǎn)品和新技術(shù)。致力于向客戶提供原位透射電鏡解決方案、臺(tái)式掃描電鏡,掃描電鏡,臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī),sem掃描電鏡,原位掃···

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NEWS

2024-12-10

SEM掃描電鏡簡(jiǎn)單易行的制樣過程介紹

掃描電子顯微鏡的制樣過程雖然相對(duì)復(fù)雜，但遵循一定的步驟和注意事項(xiàng)，可以確保制樣過程的簡(jiǎn)單易行。以下是一個(gè)SEM掃描電鏡的制樣過程介紹：一、樣品準(zhǔn)備取材：根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求，從原始材料中取出適量的樣品。對(duì)于生物樣品，可能需要使用刀片將組織切割成小于1立方毫米的小塊。...

2024-12-09

如何延長(zhǎng)SEM掃描電鏡的使用壽命

為了延長(zhǎng)掃描電鏡的使用壽命，需要采取一系列維護(hù)和保養(yǎng)措施。以下是一些具體的建議：一、保持適宜的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境保持清潔：確保實(shí)驗(yàn)室無灰塵，灰塵可能損壞電子元件。保持干燥：避免濕氣，濕氣同樣可能損害電子元件。...

2024-12-06

SEM掃描電鏡基礎(chǔ)篇之掃描電鏡的構(gòu)造

掃描電鏡的基礎(chǔ)構(gòu)造主要包括以下幾個(gè)關(guān)鍵部分：一、電子光學(xué)系統(tǒng) 電子槍：電子槍是SEM掃描電鏡的核心部件之一，用于產(chǎn)生和加速電子束。電子槍內(nèi)部通常包含陰極、陽極和聚焦線圈等組件，通過加熱陰極釋放電子，并通過電場(chǎng)加速和聚焦形成細(xì)小的電子束。...

2024-12-05

SEM掃描電鏡如何做材料表征檢測(cè)

掃描電鏡在材料表征檢測(cè)中扮演著重要角色，其高分辨率和多種檢測(cè)器配置使得它能夠提供豐富的材料信息。以下是SEM掃描電鏡進(jìn)行材料表征檢測(cè)的詳細(xì)步驟和要點(diǎn)：一、樣品準(zhǔn)備樣品選擇：選擇具有代表性的樣品，確保樣品能夠反映材料的整體特性。...

2024-12-04

SEM掃描電鏡對(duì)于樣品有那些具體的要求

掃描電鏡對(duì)于樣品有一系列具體的要求，這些要求旨在確保樣品能夠在SEM掃描電鏡中獲得高質(zhì)量的圖像。以下是對(duì)這些要求的詳細(xì)歸納：一、導(dǎo)電性要求導(dǎo)電樣品：如金屬等導(dǎo)電性能良好的樣品，可以直接進(jìn)行觀察。因?yàn)檫@類樣品能夠有效地防止電子積累，減少電荷效應(yīng)，從而確保圖像質(zhì)量。...

2024-12-03

SEM掃描電鏡導(dǎo)電性材料如何制備

SEM（掃描電子顯微鏡）樣品的制備過程對(duì)于確保觀測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性至關(guān)重要，特別是針對(duì)導(dǎo)電性材料的制備，需要注意以下幾點(diǎn)：一、塊狀導(dǎo)電樣品的制備樣品尺寸與固定：確保樣品的大小適合電鏡樣品底座的尺寸。...

2024-12-02

SEM掃描電鏡在能源領(lǐng)域的應(yīng)用介紹

掃描電鏡（Scanning Electron Microscope）在能源領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用，其高分辨率和多功能性使其成為研究和分析能源材料的重要工具。以下是對(duì)SEM掃描電鏡在能源領(lǐng)域應(yīng)用的詳細(xì)介紹：一、掃描電鏡的基本原理 SEM掃描電鏡利用高能電子束掃描樣品表面，通過檢測(cè)與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)（如二次電子、背散射電子等）來獲取樣品表面的形貌和成分信息。這些信息可以用于表征樣品的物理和化學(xué)性質(zhì)，為能源材料的研究和開發(fā)提供重要依據(jù)。...

2024-11-29

SEM掃描電鏡在刑事偵察方面的應(yīng)用介紹

掃描電鏡（Scanning Electron Microscope）在刑事偵察方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用，其高分辨率、大景深和多種分析功能使其成為法醫(yī)物證分析的重要工具。以下是對(duì)SEM掃描電鏡在刑事偵察方面應(yīng)用的詳細(xì)介紹：一、法醫(yī)物證分析纖維與毛發(fā)分析：掃描電鏡能夠清晰地區(qū)分人的頭發(fā)與動(dòng)物的毛發(fā)，甚至可以通過高倍放大觀察人發(fā)的細(xì)節(jié)，如種族特征、是否經(jīng)過化學(xué)處理等。這對(duì)于犯罪現(xiàn)場(chǎng)遺留的毛發(fā)物證分析具有重要意義。...

2024-11-28

SEM掃描電鏡如何觀察樣品的表面形貌

掃描電鏡是通過電子束掃描樣品表面，產(chǎn)生高分辨率的圖像，從而觀察樣品的表面形貌的。以下是SEM掃描電鏡觀察樣品表面形貌的詳細(xì)步驟和注意事項(xiàng)：一、樣品準(zhǔn)備導(dǎo)電性處理：對(duì)于非導(dǎo)電樣品，通常需要進(jìn)行鍍膜處理，使用金、鉑等導(dǎo)電材料沉積一層薄膜，以避免電子積累（charging effect）干擾成像。...

2024-11-27

SEM掃描電鏡樣品的處理過程介紹

掃描電鏡樣品的處理過程是確保成像效果的關(guān)鍵步驟，主要包括以下環(huán)節(jié)：一、樣品準(zhǔn)備取樣：根據(jù)需要觀察的樣品類型和特征，切取適當(dāng)大小和形狀的樣品。對(duì)于SEM掃描電鏡來說，所切取樣品比透射電鏡樣品稍大一些，通常為8~10mm2，高約5mm。同時(shí)，樣品應(yīng)具有代表性，能夠反映所研究材料的整體性能。...

2024-11-26

SEM掃描電鏡塊狀樣品如何制備

掃描電鏡掃描塊狀樣品的制備方法主要根據(jù)樣品的導(dǎo)電性和大小來決定。以下是一個(gè)基本的制備流程：一、樣品準(zhǔn)備選擇樣品：確保樣品的大小適合SEM掃描電鏡的樣品底座尺寸。如果樣品過大，可能需要進(jìn)行切割或鑲嵌處理。...

2024-11-25

SEM掃描電鏡在礦物領(lǐng)域的應(yīng)用介紹

掃描電鏡在礦物領(lǐng)域的應(yīng)用十分廣泛，它提供了高分辨率的成像能力，使得研究人員能夠深入觀察礦物的微觀結(jié)構(gòu)和成分。以下是對(duì)SEM掃描電鏡在礦物領(lǐng)域應(yīng)用的詳細(xì)介紹：一、礦物形貌觀察掃描電鏡能夠清晰地展示礦物的微觀形貌，包括晶體的形態(tài)、大小、生長(zhǎng)特征以及表面紋理等。這些形貌特征對(duì)于鑒定礦物種類、研究礦物成因和演化過程具有重要意義。...

2024-11-22

SEM掃描電鏡用到的技術(shù)有那些

SEM（掃描電鏡，Scanning Electron Microscope）掃描電鏡用到的技術(shù)主要包括以下幾個(gè)方面：一、基本原理技術(shù) 掃描電鏡是利用高能電子束掃描樣品表面，并通過檢測(cè)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)來獲得樣品表面微觀結(jié)構(gòu)的成像工具。其成像原理主要基于電子與物質(zhì)的相互作用，包括：...

2024-11-21

SEM掃描電鏡沒有圖像怎么解決

掃描電鏡沒有圖像的問題可能涉及多個(gè)方面，以下是一些可能的解決方案：一、檢查電子束電子束產(chǎn)生：確認(rèn)電子槍是否正常工作，電子束是否成功產(chǎn)生。檢查電子束的聚焦和掃描是否正常，可以通過觀察電子束在樣品上的掃描軌跡來判斷。...

2024-11-20

科研級(jí)的SEM掃描電鏡有那些特殊的優(yōu)點(diǎn)

科研級(jí)的SEM（掃描電子顯微鏡）掃描電鏡具有一系列特殊的優(yōu)點(diǎn)，使其成為科研分析、產(chǎn)品質(zhì)量控制等領(lǐng)域的重要工具。以下是對(duì)其特殊優(yōu)點(diǎn)的歸納：高分辨率：掃描電鏡的分辨率通?？梢赃_(dá)到納米級(jí)別，遠(yuǎn)高于光學(xué)顯微鏡。新式的SEM掃描電鏡分辨率甚至可以達(dá)到1納米或更低，使得研究者能夠深入了解被掃描物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)。...

2024-11-19

SEM掃描電鏡必掌握的關(guān)鍵點(diǎn)分享

掃描電鏡作為一種高性能成像工具，在材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。為了確保能夠充分發(fā)揮SEM掃描電鏡的潛力并獲得高質(zhì)量的圖像，以下是一些必須掌握的關(guān)鍵點(diǎn)：一、掃描電鏡的基本原理與構(gòu)造基本原理：SEM掃描電鏡利用聚焦電子束對(duì)樣品表面進(jìn)行掃描，通過收集樣品在電子束作用下產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號(hào)，形成樣品表面的形貌像。...

2024-11-18

SEM掃描電鏡的主要操作過程介紹

掃描電鏡的主要操作過程可以歸納為以下幾個(gè)步驟：一、開機(jī)與準(zhǔn)備接通電源：確認(rèn)掃描電鏡及其附屬設(shè)備（如真空系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng)）處于正常工作狀態(tài)。在電鏡基座的前面板上找到綠（ON）、黃（STANDBY）、紅（OFF）三個(gè)按鈕，按紅鈕使電鏡通電。...

2024-11-15

SEM掃描電鏡能觀察那些樣品

掃描電鏡是一種功能強(qiáng)大的顯微鏡技術(shù)，能夠觀察和分析多種類型的樣品。以下是一些SEM掃描電鏡可以觀察的樣品類型及其相關(guān)應(yīng)用：一、材料科學(xué)領(lǐng)域金屬材料：掃描電鏡可用于觀察合金的晶粒結(jié)構(gòu)和相界面，幫助優(yōu)化合金成分和制造工藝，提高材料強(qiáng)度和耐腐蝕性。此外，還可以分析金屬表面的腐蝕情況，從而幫助改進(jìn)防腐蝕涂層的設(shè)計(jì)。陶瓷材料：通過SEM掃描電鏡可以分析陶瓷材料的微觀裂紋和孔隙，改進(jìn)燒結(jié)工藝和配方，增強(qiáng)陶瓷的硬度和韌性。...

2024-11-14

SEM掃描電鏡操作失誤怎么辦

在使用掃描電鏡時(shí)，若發(fā)生操作失誤，首先需要冷靜下來，不要慌張，然后按照以下步驟進(jìn)行應(yīng)對(duì)：一、識(shí)別問題觀察現(xiàn)象：注意顯示屏上的圖像是否異常，如模糊、漂移、失真等。檢查設(shè)備是否有報(bào)警或錯(cuò)誤提示。...

2024-11-13

SEM掃描電鏡在金屬材料領(lǐng)域的應(yīng)用介紹

掃描電鏡在金屬材料領(lǐng)域的應(yīng)用非常廣泛，它以其高分辨率和多功能性成為研究金屬材料微觀結(jié)構(gòu)和性能的重要工具。以下是對(duì)SEM掃描電鏡在金屬材料領(lǐng)域應(yīng)用的詳細(xì)介紹：一、金屬材料微觀組織分析掃描電鏡可用于觀察金屬材料的微觀組織，包括晶粒結(jié)構(gòu)、相界面、析出物等。通過SEM掃描電鏡圖像，研究人員可以清晰地看到金屬材料的晶粒形態(tài)、大小和分布，以及不同相之間的界面關(guān)系。...