掃描電鏡（SEM），能夠提供高分辨率的表面信息及出色的材料對比度。它們被廣泛應用于電鏡科學及應用領域，如納米技術、材料分析、半導體失效分析、生命科學和質量控制等。

隨著科學技術的進步，如今的SEM掃描電鏡已經(jīng)成功的結合了高性能的掃描電鏡和優(yōu)良的用戶界面體驗，這無論是對掃描電鏡有經(jīng)驗的人，還是沒有經(jīng)驗的人都很具有吸引力。掃描電鏡憑借很多的可選配置，在生命科學，材料科學領域被很多人選擇，掃描電鏡也可以根據(jù)客戶要求進行定制。

 SEM掃描電鏡具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡，提供的成像品質十分好。

標配能譜儀和波譜儀接口，另有用于**形貌與化學分析的全集成式顆粒分析和識別解決方案可供選擇。

掃描電鏡的五象限背散射電子探測器有助于增強低電壓性能及提供更豐富的形態(tài)信息。對于非導電樣品，電子束襯管技術可有效提高分辨率。

 SEM掃描電鏡在學術和研究機構中使用的一般屬于分析型。可以提供優(yōu)異的成像品質的同時，同時還具有處理多種材料的能力。結合軟件的易用性，使其成為多種研究領域的不錯選擇，范圍涵蓋半導體和電子技術、地質科學及材料研究。

上面就是給大家介紹的掃描電鏡在材料和生命科學中的應用，希望對大家有所幫助，更多關于掃描電鏡的相關知識可以電話聯(lián)系我們。