sem掃描電鏡的原理、組成、基本參數(shù)和應(yīng)用的介紹
日期:2022-09-13 10:46:30 瀏覽次數(shù):445
掃描電鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)一束高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時(shí),被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子,以及在可見(jiàn)、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時(shí),也可產(chǎn)生電子-空穴對(duì)、晶格振動(dòng) (聲子)、電子振蕩 (等離子體)。原則上講,利用電子和物質(zhì)的相互作用,可以獲取被測(cè)樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息,如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場(chǎng)或磁場(chǎng)等。
sem掃描電鏡機(jī)構(gòu)組成
掃描電鏡由三大部分組成:真空系統(tǒng),電子束系統(tǒng)以及成像系統(tǒng)。
sem掃描電鏡基本參數(shù)
放大率:通過(guò)控制掃描區(qū)域的大小來(lái)控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以?huà)呙杳娣e得到
場(chǎng)深:掃描電鏡中,位于焦平面上下的一小層區(qū)域內(nèi)的樣品點(diǎn)都可以得到良好的會(huì)焦而成象。這一小層的厚度稱(chēng)為場(chǎng)深,通常為幾納米厚,所以,sem掃描電鏡可以用于納米級(jí)樣品的三維成像。
工作距離:工作距離指從物鏡到樣品高點(diǎn)的垂直距離。
如果增加工作距離,可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場(chǎng)深。
如果減少工作距離,則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的分辨率。
通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。
掃描電鏡應(yīng)用
生物:種子、花粉、細(xì)菌等;
醫(yī)學(xué):血球、病毒等;
動(dòng)物:大腸、絨毛、細(xì)胞、纖維等;
材料:陶瓷、高分子、粉末、環(huán)氧樹(shù)脂等;
化學(xué)、物理、地質(zhì)、冶金、礦物 、機(jī)械、電機(jī)及導(dǎo)電性樣品、電子材料等。
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