為什么sem掃描電鏡不能測試具有磁性的粉末樣品,而對塊狀樣品則沒有做過多的強調?
日期:2022-11-28 13:16:15 瀏覽次數:463
鐵磁性,順磁性,逆磁性估計是不用我再科普了。反鐵磁性,亞鐵磁性在電子光學領域,不用深入研究。我們強調一個概念。沒有什么材料,不能用電鏡測試。磁性粉末,可以。高分子,也沒問題。解答問題之前,先讓我讓我說幾個都稱不上實驗安全原則和實驗規(guī)范的道理吧。
1.你為什么要做?換到實驗上來說,這個實驗,你為什么要做?
做事,自然是滿足自己,對自己有好處才做。做實驗,自然能出表征結果,才去做掃描電鏡。(試錯也是實驗結果之一)
2.會不會有風險?換到實驗上來說,也就是做這個實驗,會不會造成人身財產損失?
做什么事沒有風險?換到實驗上,也是一樣。用sem掃描電鏡,自然是可能對大型儀器設備造成損壞了。
3.如果有風險,風險是否能夠規(guī)避或者降低?如果不能規(guī)避或降低,那投入和產出是否成正比?
我們都在尋找減小風險的方案。如果目前還是摸著石頭過河,那可能造成的不良后果,我們早早也就做好心理建設了。
回到問題上來。為什么掃描電鏡不能測試具有磁性的粉末樣品?(至少題主,亦或是題主的老師什么的,強調過不能。)
咱還是按照前三個方面分析這件事。
1.為什么要用sem掃描電鏡表征磁性樣品?是為了看到磁籌?還是表征粒度?不得而知。強調磁性粉末,那自然是順磁性樣品。但是,考慮到磁場與電子束的相互作用。二次電子,被散射電子,都是經過樣品磁場扭曲后,才被探頭接收后成像的。所以,像普遍都是失真的。
2.用掃描電鏡表征磁性粉末,會不會有什么不良后果?這自然是有的。sem掃描電鏡都有合適的工作距離。樣品距離所謂極靴越近,自然分辨能力就越高??紤]到電子槍發(fā)射出的電子,一般由磁場匯聚。那當你的樣品,也就是磁性粉末,距離極靴強磁場越近,那自然可能會被吸附到極靴上。之后,電子束有可能會匯聚不良,有可能不會,這取決于樣品磁性大小,吸附位置等。
3.重頭戲來了。能不能不讓樣品被吸附到極靴上?如果吸附上了,那后果你能不能接受?
盡可能不被吸附到極靴上,自然可以。可以利用包埋,鑲樣來避免樣品被吸上。同時增大工作距離。但是帶來的后果是,處理過的樣品,和你原始的樣品理化性質不能說完全不一樣,也是不盡相同。增大工作距離,分辨能力下降。
如果不幸吸附上了,拆機、清理是少不了。但可能清理不干凈。精密儀器拆解過,重新安裝,總會有些許誤差。
這些風險你如果都能接受,沒問題。但是,你能接受的,分管儀器設備的人員,他不一定能接受。再考慮到順磁性樣品圖像失真,這實驗結果,你都不一定能接受,更何況你還得承擔風險。
塊狀樣品就占了個不容易被吸到極靴上的優(yōu)勢,但不容易不代表不會被吸到極靴上。順磁,塊狀一樣的失真……
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