sem掃描電鏡主要用來(lái)分析下面這幾種
日期:2022-12-21 09:30:30 瀏覽次數(shù):168
掃描電鏡與普通顯微鏡相比,分辨率更高、放大倍數(shù)更多、景深大、視野大且成像立體效果更好等諸多優(yōu)點(diǎn),使其應(yīng)用領(lǐng)域更加廣泛。今天主要帶大家了解sem掃描電鏡主要用來(lái)分析什么!
納米材料:納米材料的定義就是指組成材料的顆粒或微晶尺寸在0.1-100nm范圍內(nèi),因?yàn)?span style="font-size: 16px; color: rgb(255, 0, 0);">掃描電鏡具有很高的分辨率。所以多數(shù)用于觀察納米材料。
材料斷口:sem掃描電鏡所顯示的斷口形貌從深層次,高景深的角度呈現(xiàn)材料斷裂的本質(zhì),在材料斷裂原因、事故原因等判定帶來(lái)很大幫助。
直接觀察原始表面:它能夠直接觀察直徑,或更大尺寸的試樣,對(duì)試樣的形狀沒(méi)有任何限制,粗糙表面也能觀察,這便免除了制備樣品的麻煩,而且能真實(shí)觀察試樣本身物質(zhì)成分不同的襯度
觀察厚試樣:用掃描電鏡觀察厚塊試樣更有利,更能得到真實(shí)的試樣表面資料。
聯(lián)系我們
全國(guó)服務(wù)熱線
4001-123-022
公司:微儀光電臺(tái)式掃描電子顯微鏡銷售部
地址:天津市東麗區(qū)華明**產(chǎn)業(yè)區(qū)華興路15號(hào)A座