電子顯微鏡，原子力顯微鏡，掃描隧道顯微鏡.的區(qū)別：

　　一．掃描電鏡的特點 和光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點：

　　(一) 能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。

　　(二) 樣品制備過程簡單，不用切成薄片。

　　(三) 樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉(zhuǎn)，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察。

　　(四) 景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。

　　(五) 圖象的放大范圍廣，分辨率也比較高。可放大十幾倍到幾十萬倍，它基本上包括了從放大鏡、光學顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。分辨率介于光學顯微鏡與透射電鏡之間，可達3nm。

　　(六) 電子束對樣品的損傷與污染程度較小。

　　(七) 在觀察形貌的同時，還可利用從樣品發(fā)出的其他信號作微區(qū)成分分析。

　　二·原子力顯微鏡

　　原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運動狀態(tài)發(fā)生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得 表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。

　　相對于掃描電子顯微鏡，原子力顯微鏡具有許多優(yōu)點。不同于電子顯微鏡只能提供二維圖像，AFM提供真正的三維表面圖。同時，AFM不需要對樣品的任何特殊處理，如鍍銅或碳，這種處理對樣品會造成不可逆轉(zhuǎn)的傷害。第三，電子顯微鏡需要運行在高真空條件下，原子力顯微鏡在常壓下甚至在液體環(huán)境下都可以良好工作。這樣可以用來研究生物宏觀分子，甚至活的生物組織。原子力顯微鏡與掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）相比，由于能觀測非導(dǎo)電樣品，因此具有更為廣泛的適用性。當前在科學研究和工業(yè)界廣泛使用的掃描力顯微鏡，其基礎(chǔ)就是原子力顯微鏡。

　　三·掃描隧道顯微鏡

　?、?高分辨率 掃描隧道顯微鏡具有原子級的空間分辨率，其橫向空間分辨率為 l，縱向分辨率達0.1，

　　② 掃描隧道顯微鏡可直接探測樣品的表面結(jié)構(gòu)，可繪出立體三維結(jié)構(gòu)圖像。

　?、?掃描隧道顯微鏡可在真空、常壓、空氣、甚至溶液中探測物質(zhì)的結(jié)構(gòu)。由于沒有高能電子束，對表面沒有破壞作用(如輻射， 熱損傷等)所以能對生理狀態(tài)下生物大分子和活細胞膜表面的結(jié)構(gòu)進行研究，樣品不會受到損傷而保持完好。

　　④ 掃描隧道顯微鏡的掃描速度快，獲取數(shù)據(jù)的時間短，成像也快，有可能開展生命過程的動力學研究。

　　⑤ 不需任何透鏡， 體積小，有人稱之為"口袋顯微鏡"。