掃描電鏡參數(shù)眾多，皆可顯示在圖片下方工具欄中，但決定圖像質(zhì)量Z直接、Z關(guān)鍵因素是加速電壓(EHT)、工作距離(WD)、放大倍數(shù)(Mag)和檢測(cè)器種類。

SEM掃描電鏡常見參數(shù)

1、加速電壓

一般，加速電壓越高，掃描電鏡圖像分辨率越高，當(dāng)樣品導(dǎo)電性好且不易受電子束損傷時(shí)可選用高加速電壓，這時(shí)電子束能量大，對(duì)樣品穿透深，材料襯度減小，圖像分辨率提高。但加速電壓過高，電子束對(duì)樣品的穿透能力過大，樣品表面信息缺失，樣品看起來像玉一樣。

低加速電壓時(shí)，入射電子能量較低，其與樣品的作用深度較淺，更能反映樣品Z表層的信息，有利于樣品表層形貌的觀察;此外，低加速電壓可以有效地減少荷電現(xiàn)象，更易觀察不導(dǎo)電樣品。樣品在10kV加速電壓下邊緣過亮，說明此處電荷大量積累，而用1kV加速電壓拍攝的同一部位就沒有明顯的荷電現(xiàn)象。

因此，根據(jù)自己的要求靈活地選擇加速電壓，才能得到理想的SEM掃描電鏡圖像。當(dāng)需要觀測(cè)樣品的表面信息、樣品的導(dǎo)電性較差、樣品的熱穩(wěn)定性較差時(shí)，需要選擇較低的，甚至是超低的加速電壓。當(dāng)需要得到分辨率高的圖像、樣品表面存在有機(jī)污染或是樣品內(nèi)部的相組成信息時(shí)，需要選擇較高的加速電壓。

2、工作距離

工作距離(WD)是物鏡下極靴到樣品表面的距離。工作距離增大時(shí)，樣品上的束斑變大，分辨率下降，但孔徑角減小，景深增加。同時(shí)，較大的工作距離可以實(shí)現(xiàn)很小倍數(shù)成像，放大倍數(shù)能夠達(dá)到幾十倍。通常工作距離可在2-45mm范圍內(nèi)選用。觀察高分辨圖像時(shí)可選用小于5mm的工作距離，配合探測(cè)器;而觀察粗糙斷口表面或較大的植物樣品時(shí)可以選用10mm以上的工作距離，以獲得較大的景深。

3、探測(cè)器種類

SE2和Inlens都是二次電子探測(cè)器，用于樣品形貌檢測(cè)。ASB探測(cè)器是背散射電子探測(cè)器，用于元素襯度成像。

4、放大倍數(shù)和標(biāo)尺

掃描電鏡放大倍數(shù)：體現(xiàn)線圈磁場(chǎng)變化控制電子束掃描區(qū)域大小的能力范圍，是圖像顯示尺寸和電子束在樣品掃描區(qū)域尺寸的線性比值，以M表示，如果樣品上長(zhǎng)度為L(zhǎng)s直線上的信息，在顯像管上成像在Lc長(zhǎng)度上，則放大倍數(shù)為：M=Lc/Ls。

現(xiàn)在的SEM掃描電鏡幾乎全部用數(shù)碼相機(jī)照相。每個(gè)廠家對(duì)放大倍數(shù)的定義均不相同。每個(gè)儀器上也會(huì)有很多放大倍數(shù)顯示方法，比如本機(jī)Z常用的是標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)，即該掃描區(qū)域?qū)?yīng)545底片上的倍數(shù);此外還有屏幕放大倍數(shù)，即掃描區(qū)域?qū)?yīng)電腦顯示屏的放大倍數(shù)。因此對(duì)于不同掃描電鏡，相同放大倍數(shù)下看到的區(qū)域不一定一樣大。此時(shí)需要看標(biāo)尺，所有SEM掃描電鏡上的標(biāo)尺長(zhǎng)度是一致的。

對(duì)于同一臺(tái)掃描電鏡，操作人員沒有調(diào)節(jié)放大倍數(shù)顯示方法的前提下，照的同一倍數(shù)的照片，大小一致。但有時(shí)同一放大倍數(shù)下，顯示的標(biāo)尺是不一樣的，如有時(shí)5000倍的照片顯示1μm的標(biāo)尺，有時(shí)顯示的是2μm的標(biāo)尺，但標(biāo)尺顯示的長(zhǎng)度是按比例的。