sem掃描電鏡如何測量形貌?
日期:2024-05-22 09:46:02 瀏覽次數(shù):50
掃描電鏡通過電子束掃描樣品表面,收集并分析樣品與電子束相互作用產(chǎn)生的信號,從而實現(xiàn)對樣品形貌的測量。以下是SEM掃描電鏡測量形貌的主要步驟和方法:
樣品制備:首先,需要將待測樣品進行適當?shù)闹苽?,如切割、拋光、涂覆導電層等,以確保樣品可以在SEM中清晰成像。
電子束掃描:掃描電鏡通過電子槍產(chǎn)生高能電子束,電磁透鏡將電子束聚焦成納米級的細小探針,掃描線圈控制電子束在樣品表面上的掃描,由點到行,由行到面,覆蓋整個樣品區(qū)域。
信號收集:當電子束掃描到樣品表面時,會與樣品發(fā)生相互作用,產(chǎn)生各種信號,如二次電子、背散射電子、特征X射線等。其中,二次電子是SEM掃描電鏡成像的主要信號源,其強度與樣品表面形貌密切相關。
圖像處理:探測器接收并轉換這些信號為電信號,經(jīng)過放大和處理后,在顯示器上生成圖像。這個圖像就是樣品表面的形貌圖。
形貌測量:在獲得的形貌圖上,可以使用圖像處理軟件進行各種測量。例如,可以使用標尺或已知尺寸的參考物體作為比例尺,在圖像中測量感興趣的尺寸,如長度、寬度、直徑等。此外,還可以通過線掃描和輪廓測量來測量邊緣的形狀、凹凸等參數(shù)。
三維重建:如果需要更詳細地了解樣品的形貌特征,可以通過獲取多個不同角度或焦平面的SEM圖像,并使用三維重建軟件生成樣品的三維模型。這個模型可以用于測量樣品的體積、表面形貌、孔隙度等參數(shù)。
總的來說,掃描電鏡通過電子束掃描樣品表面并收集分析產(chǎn)生的信號來測量樣品的形貌。這種方法具有高分辨率、高放大倍數(shù)、高靈敏度等優(yōu)點,廣泛應用于材料科學、生物學、醫(yī)學等領域。
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