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MORE+微儀光電(天津)有限公司是一家集顯微鏡、顯微鏡自動(dòng)化、顯微專用攝像系統(tǒng)及圖像分析系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)及銷售為一體的多元化高科技企業(yè)。公司擁有一支專業(yè)從事顯微儀器應(yīng)用技術(shù)研究,新產(chǎn)品新技術(shù)開發(fā)的工程技術(shù)團(tuán)隊(duì)。 在傳統(tǒng)光學(xué)顯微成像技術(shù)上融入了攝像計(jì)算機(jī)分析系統(tǒng)及機(jī)械自動(dòng)化系統(tǒng),不斷開發(fā)出能滿足科研教學(xué)、機(jī)械制造、電子材料、紡織纖維、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、航空航天、計(jì)量科學(xué)、軍事公安、農(nóng)林牧漁等幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行研究分析的新產(chǎn)品和新技術(shù)。 致力于向客戶提供原位透射電鏡解決方案、臺(tái)式掃描電鏡,掃描電鏡,臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī),sem掃描電鏡,原位掃···
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NEWS
2024-12-30
SEM掃描電鏡測(cè)樣時(shí)有那些注意事項(xiàng)
掃描電鏡測(cè)樣時(shí)的注意事項(xiàng)涵蓋多個(gè)方面,以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和設(shè)備的正常運(yùn)行。以下是一些關(guān)鍵的注意事項(xiàng):一、樣品準(zhǔn)備與處理 導(dǎo)電性:樣品應(yīng)具有一定的導(dǎo)電性,以避免電子積累(charging effect)干擾成像。非導(dǎo)電樣品通常需要進(jìn)行鍍膜處理,使用金、鉑等導(dǎo)電材料沉積一層薄膜。...
MORE2024-12-26
像散對(duì)SEM掃描電鏡成像質(zhì)量的影響以及解決辦法介紹
像散對(duì)掃描電鏡成像質(zhì)量的影響 像散是SEM掃描電鏡成像中的一個(gè)重要問題,它指的是圖像出現(xiàn)的模糊和扭曲現(xiàn)象。當(dāng)電子束穿過樣品后發(fā)生偏轉(zhuǎn),導(dǎo)致成像區(qū)域出現(xiàn)模糊和拉伸變形,失去原本的形狀。這種像散現(xiàn)象會(huì)嚴(yán)重影響掃描電鏡圖像的成像質(zhì)量,使得圖像變得不清晰、難以分辨細(xì)節(jié)。...
MORE2024-12-25
SEM掃描電鏡微生物樣品制備經(jīng)驗(yàn)分享
掃描電鏡微生物樣品制備是一個(gè)復(fù)雜而精細(xì)的過程,以下是一些經(jīng)驗(yàn)分享:一、樣品選擇與準(zhǔn)備 樣品選擇:選擇適合SEM掃描電鏡觀察的微生物樣品,如細(xì)菌、真菌、藻類等。確保樣品處于新鮮狀態(tài),避免使用已經(jīng)死亡或變質(zhì)的微生物。...
MORE2024-12-24
SEM掃描電鏡對(duì)于樣品的要求及制備方法介紹
掃描電鏡是一種重要的微觀形貌觀察手段,對(duì)樣品有一定的要求,并需要采用相應(yīng)的制備方法來滿足這些要求。以下是對(duì)SEM掃描電鏡樣品的要求及制備方法的詳細(xì)介紹:一、掃描電鏡對(duì)樣品的要求 導(dǎo)電性:SEM掃描電鏡成像依賴于電子束與樣品表面的相互作用,因此樣品的導(dǎo)電性非常重要。...
MORE2024-12-23
SEM掃描電鏡能觀察那些樣品的形貌
掃描電鏡是一種強(qiáng)大的顯微鏡技術(shù),能夠觀察多種類型樣品的形貌。以下是一些SEM掃描電鏡可以觀察的樣品類型及其形貌特征:一、固體材料 SEM掃描電鏡廣泛應(yīng)用于固體材料的表面形貌、結(jié)構(gòu)和成分分析。...
MORE2024-12-20
SEM掃描電鏡可測(cè)樣品種類的介紹
掃描電鏡是一種強(qiáng)大而靈活的分析工具,其高分辨率和多功能性使其能夠測(cè)試和分析多種類型的樣品。以下是對(duì)SEM掃描電鏡可測(cè)樣品種類的詳細(xì)介紹:一、固體材料 掃描電鏡廣泛應(yīng)用于固體材料的表面形貌、結(jié)構(gòu)和成分分析。它可以觀察和分析金屬、陶瓷、聚合物、復(fù)合材料、涂層、薄膜、塊體、巖石、土壤等各種固體材料的微觀形貌和結(jié)構(gòu)特征。...
MORE2024-12-19
SEM掃描電鏡可以用于哪些材料分析
掃描電鏡(Scanning Electron Microscope)在材料分析中有著廣泛的應(yīng)用,可以用于多種類型材料的微觀結(jié)構(gòu)、形貌、成分等方面的分析。以下是一些具體的應(yīng)用領(lǐng)域:一、金屬材料 SEM掃描電鏡可用于觀察合金的晶粒結(jié)構(gòu)和相界面,幫助優(yōu)化合金成分和制造工藝,提高材料強(qiáng)度和耐腐蝕性。...
MORE2024-12-18
影響SEM掃描電鏡成像關(guān)鍵因素有那些
影響掃描電鏡成像的關(guān)鍵因素主要包括以下幾個(gè)方面:一、分辨率 入射電子束束斑直徑:束斑直徑是影響SEM掃描電鏡分辨本領(lǐng)的極限。一般來說,熱陰極電子槍的Z小束斑直徑可縮小到6nm,而場(chǎng)發(fā)射電子槍則可使束斑直徑小于3nm。束斑直徑越小,圖像的分辨率越高。...
MORE2024-12-17
SEM掃描電鏡測(cè)樣大概需要多少時(shí)間
掃描電鏡測(cè)樣的時(shí)間因多種因素而異,包括樣品的復(fù)雜性、所需分辨率、操作經(jīng)驗(yàn)以及具體的測(cè)試條件等。以下是對(duì)SEM掃描電鏡測(cè)樣時(shí)間的詳細(xì)分析:一、樣品準(zhǔn)備 樣品準(zhǔn)備是掃描電鏡測(cè)樣的首要步驟,也是*為耗時(shí)的一環(huán)。這一階段包括樣品的切割、磨削、拋光和鍍金等過程,目的是使樣品表面平整、導(dǎo)電,并暴露出需要觀察的結(jié)構(gòu)。...
MORE2024-12-16
SEM掃描電鏡樣品制備的基本流程介紹
掃描電鏡樣品制備的基本流程是確保獲得高質(zhì)量SEM掃描電鏡圖像的關(guān)鍵步驟。以下是對(duì)該流程的詳細(xì)介紹:一、準(zhǔn)備階段 明確觀察目的:在開始制樣之前,需要明確掃描電鏡的觀察目的,以便選擇合適的樣品和制樣方法。...
MORE2024-12-13
sem掃描電鏡加速電壓不同會(huì)有什么影響嗎?
掃描電子顯微鏡中的加速電壓對(duì)成像和分析過程具有顯著影響。以下是關(guān)于SEM掃描電鏡加速電壓不同所產(chǎn)生的影響的詳細(xì)分析:一、加速電壓的作用 加速電壓決定了入射電子的能量,從而影響樣品與電子束的相互作用。這種相互作用決定了圖像的分辨率、樣品的穿透深度、表面細(xì)節(jié)以及成分分析的能力。...
MORE2024-12-12
SEM掃描電鏡的操作規(guī)范介紹
掃描電鏡是用于觀測(cè)組織或材料表面形貌的重要工具。以下是SEM掃描電鏡的操作規(guī)范介紹:一、準(zhǔn)備階段 樣品準(zhǔn)備:確保樣品已完全干燥。 準(zhǔn)備必要的耗材,如樣品臺(tái)、導(dǎo)電膠帶、鑷子、剪刀和手套。使用導(dǎo)電膠帶將樣品固定在樣品臺(tái)上,并確保樣品牢固粘貼。操作過程中應(yīng)佩戴手套,以防污染樣品。...
MORE2024-12-11
SEM掃描電鏡能測(cè)那些種類的樣品
掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡,主要用于觀察和分析樣品的微觀形貌和結(jié)構(gòu)。它可以測(cè)量的樣品種類繁多,涵蓋了多個(gè)科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域。以下是一些SEM掃描電鏡可以測(cè)量的主要樣品類型:一、固體材料 金屬樣品:金屬是掃描電鏡的常見樣品,因?yàn)樗鼈兪菍?dǎo)電的,能夠產(chǎn)生清晰的圖像。SEM掃描電鏡可用于觀察金屬表面的微觀結(jié)構(gòu)、晶體形貌以及顆粒分布等。...
MORE2024-12-10
SEM掃描電鏡簡(jiǎn)單易行的制樣過程介紹
掃描電子顯微鏡的制樣過程雖然相對(duì)復(fù)雜,但遵循一定的步驟和注意事項(xiàng),可以確保制樣過程的簡(jiǎn)單易行。以下是一個(gè)SEM掃描電鏡的制樣過程介紹:一、樣品準(zhǔn)備 取材:根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求,從原始材料中取出適量的樣品。對(duì)于生物樣品,可能需要使用刀片將組織切割成小于1立方毫米的小塊。...
MORE2024-12-09
如何延長(zhǎng)SEM掃描電鏡的使用壽命
為了延長(zhǎng)掃描電鏡的使用壽命,需要采取一系列維護(hù)和保養(yǎng)措施。以下是一些具體的建議:一、保持適宜的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境 保持清潔:確保實(shí)驗(yàn)室無灰塵,灰塵可能損壞電子元件。保持干燥:避免濕氣,濕氣同樣可能損害電子元件。...
MORE2024-12-06
SEM掃描電鏡基礎(chǔ)篇之掃描電鏡的構(gòu)造
掃描電鏡的基礎(chǔ)構(gòu)造主要包括以下幾個(gè)關(guān)鍵部分:一、電子光學(xué)系統(tǒng) 電子槍:電子槍是SEM掃描電鏡的核心部件之一,用于產(chǎn)生和加速電子束。電子槍內(nèi)部通常包含陰極、陽(yáng)極和聚焦線圈等組件,通過加熱陰極釋放電子,并通過電場(chǎng)加速和聚焦形成細(xì)小的電子束。...
MORE2024-12-05
SEM掃描電鏡如何做材料表征檢測(cè)
掃描電鏡在材料表征檢測(cè)中扮演著重要角色,其高分辨率和多種檢測(cè)器配置使得它能夠提供豐富的材料信息。以下是SEM掃描電鏡進(jìn)行材料表征檢測(cè)的詳細(xì)步驟和要點(diǎn):一、樣品準(zhǔn)備 樣品選擇:選擇具有代表性的樣品,確保樣品能夠反映材料的整體特性。...
MORE2024-12-04
SEM掃描電鏡對(duì)于樣品有那些具體的要求
掃描電鏡對(duì)于樣品有一系列具體的要求,這些要求旨在確保樣品能夠在SEM掃描電鏡中獲得高質(zhì)量的圖像。以下是對(duì)這些要求的詳細(xì)歸納:一、導(dǎo)電性要求 導(dǎo)電樣品:如金屬等導(dǎo)電性能良好的樣品,可以直接進(jìn)行觀察。因?yàn)檫@類樣品能夠有效地防止電子積累,減少電荷效應(yīng),從而確保圖像質(zhì)量。...
MORE2024-12-03
SEM掃描電鏡導(dǎo)電性材料如何制備
SEM(掃描電子顯微鏡)樣品的制備過程對(duì)于確保觀測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性至關(guān)重要,特別是針對(duì)導(dǎo)電性材料的制備,需要注意以下幾點(diǎn):一、塊狀導(dǎo)電樣品的制備 樣品尺寸與固定:確保樣品的大小適合電鏡樣品底座的尺寸。...
MORE2024-12-02
SEM掃描電鏡在能源領(lǐng)域的應(yīng)用介紹
掃描電鏡(Scanning Electron Microscope)在能源領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,其高分辨率和多功能性使其成為研究和分析能源材料的重要工具。以下是對(duì)SEM掃描電鏡在能源領(lǐng)域應(yīng)用的詳細(xì)介紹:一、掃描電鏡的基本原理 SEM掃描電鏡利用高能電子束掃描樣品表面,通過檢測(cè)與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)(如二次電子、背散射電子等)來獲取樣品表面的形貌和成分信息。這些信息可以用于表征樣品的物理和化學(xué)性質(zhì),為能源材料的研究和開發(fā)提供重要依據(jù)。...
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