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MORE+微儀光電(天津)有限公司是一家集顯微鏡、顯微鏡自動化、顯微專用攝像系統(tǒng)及圖像分析系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)及銷售為一體的多元化高科技企業(yè)。公司擁有一支專業(yè)從事顯微儀器應(yīng)用技術(shù)研究,新產(chǎn)品新技術(shù)開發(fā)的工程技術(shù)團(tuán)隊。 在傳統(tǒng)光學(xué)顯微成像技術(shù)上融入了攝像計算機(jī)分析系統(tǒng)及機(jī)械自動化系統(tǒng),不斷開發(fā)出能滿足科研教學(xué)、機(jī)械制造、電子材料、紡織纖維、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、航空航天、計量科學(xué)、軍事公安、農(nóng)林牧漁等幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行研究分析的新產(chǎn)品和新技術(shù)。 致力于向客戶提供原位透射電鏡解決方案、臺式掃描電鏡,掃描電鏡,臺式掃描電鏡能譜一體機(jī),sem掃描電鏡,原位掃···
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NEWS
2024-12-20
SEM掃描電鏡可測樣品種類的介紹
掃描電鏡是一種強(qiáng)大而靈活的分析工具,其高分辨率和多功能性使其能夠測試和分析多種類型的樣品。以下是對SEM掃描電鏡可測樣品種類的詳細(xì)介紹:一、固體材料 掃描電鏡廣泛應(yīng)用于固體材料的表面形貌、結(jié)構(gòu)和成分分析。它可以觀察和分析金屬、陶瓷、聚合物、復(fù)合材料、涂層、薄膜、塊體、巖石、土壤等各種固體材料的微觀形貌和結(jié)構(gòu)特征。...
MORE2024-12-19
SEM掃描電鏡可以用于哪些材料分析
掃描電鏡(Scanning Electron Microscope)在材料分析中有著廣泛的應(yīng)用,可以用于多種類型材料的微觀結(jié)構(gòu)、形貌、成分等方面的分析。以下是一些具體的應(yīng)用領(lǐng)域:一、金屬材料 SEM掃描電鏡可用于觀察合金的晶粒結(jié)構(gòu)和相界面,幫助優(yōu)化合金成分和制造工藝,提高材料強(qiáng)度和耐腐蝕性。...
MORE2024-12-18
影響SEM掃描電鏡成像關(guān)鍵因素有那些
影響掃描電鏡成像的關(guān)鍵因素主要包括以下幾個方面:一、分辨率 入射電子束束斑直徑:束斑直徑是影響SEM掃描電鏡分辨本領(lǐng)的極限。一般來說,熱陰極電子槍的Z小束斑直徑可縮小到6nm,而場發(fā)射電子槍則可使束斑直徑小于3nm。束斑直徑越小,圖像的分辨率越高。...
MORE2024-12-17
SEM掃描電鏡測樣大概需要多少時間
掃描電鏡測樣的時間因多種因素而異,包括樣品的復(fù)雜性、所需分辨率、操作經(jīng)驗以及具體的測試條件等。以下是對SEM掃描電鏡測樣時間的詳細(xì)分析:一、樣品準(zhǔn)備 樣品準(zhǔn)備是掃描電鏡測樣的首要步驟,也是*為耗時的一環(huán)。這一階段包括樣品的切割、磨削、拋光和鍍金等過程,目的是使樣品表面平整、導(dǎo)電,并暴露出需要觀察的結(jié)構(gòu)。...
MORE2024-12-16
SEM掃描電鏡樣品制備的基本流程介紹
掃描電鏡樣品制備的基本流程是確保獲得高質(zhì)量SEM掃描電鏡圖像的關(guān)鍵步驟。以下是對該流程的詳細(xì)介紹:一、準(zhǔn)備階段 明確觀察目的:在開始制樣之前,需要明確掃描電鏡的觀察目的,以便選擇合適的樣品和制樣方法。...
MORE2024-12-13
sem掃描電鏡加速電壓不同會有什么影響嗎?
掃描電子顯微鏡中的加速電壓對成像和分析過程具有顯著影響。以下是關(guān)于SEM掃描電鏡加速電壓不同所產(chǎn)生的影響的詳細(xì)分析:一、加速電壓的作用 加速電壓決定了入射電子的能量,從而影響樣品與電子束的相互作用。這種相互作用決定了圖像的分辨率、樣品的穿透深度、表面細(xì)節(jié)以及成分分析的能力。...
MORE2024-12-12
SEM掃描電鏡的操作規(guī)范介紹
掃描電鏡是用于觀測組織或材料表面形貌的重要工具。以下是SEM掃描電鏡的操作規(guī)范介紹:一、準(zhǔn)備階段 樣品準(zhǔn)備:確保樣品已完全干燥。 準(zhǔn)備必要的耗材,如樣品臺、導(dǎo)電膠帶、鑷子、剪刀和手套。使用導(dǎo)電膠帶將樣品固定在樣品臺上,并確保樣品牢固粘貼。操作過程中應(yīng)佩戴手套,以防污染樣品。...
MORE2024-12-11
SEM掃描電鏡能測那些種類的樣品
掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡,主要用于觀察和分析樣品的微觀形貌和結(jié)構(gòu)。它可以測量的樣品種類繁多,涵蓋了多個科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域。以下是一些SEM掃描電鏡可以測量的主要樣品類型:一、固體材料 金屬樣品:金屬是掃描電鏡的常見樣品,因為它們是導(dǎo)電的,能夠產(chǎn)生清晰的圖像。SEM掃描電鏡可用于觀察金屬表面的微觀結(jié)構(gòu)、晶體形貌以及顆粒分布等。...
MORE2024-12-10
SEM掃描電鏡簡單易行的制樣過程介紹
掃描電子顯微鏡的制樣過程雖然相對復(fù)雜,但遵循一定的步驟和注意事項,可以確保制樣過程的簡單易行。以下是一個SEM掃描電鏡的制樣過程介紹:一、樣品準(zhǔn)備 取材:根據(jù)實驗需求,從原始材料中取出適量的樣品。對于生物樣品,可能需要使用刀片將組織切割成小于1立方毫米的小塊。...
MORE2024-12-09
如何延長SEM掃描電鏡的使用壽命
為了延長掃描電鏡的使用壽命,需要采取一系列維護(hù)和保養(yǎng)措施。以下是一些具體的建議:一、保持適宜的實驗室環(huán)境 保持清潔:確保實驗室無灰塵,灰塵可能損壞電子元件。保持干燥:避免濕氣,濕氣同樣可能損害電子元件。...
MORE2024-12-06
SEM掃描電鏡基礎(chǔ)篇之掃描電鏡的構(gòu)造
掃描電鏡的基礎(chǔ)構(gòu)造主要包括以下幾個關(guān)鍵部分:一、電子光學(xué)系統(tǒng) 電子槍:電子槍是SEM掃描電鏡的核心部件之一,用于產(chǎn)生和加速電子束。電子槍內(nèi)部通常包含陰極、陽極和聚焦線圈等組件,通過加熱陰極釋放電子,并通過電場加速和聚焦形成細(xì)小的電子束。...
MORE2024-12-05
SEM掃描電鏡如何做材料表征檢測
掃描電鏡在材料表征檢測中扮演著重要角色,其高分辨率和多種檢測器配置使得它能夠提供豐富的材料信息。以下是SEM掃描電鏡進(jìn)行材料表征檢測的詳細(xì)步驟和要點(diǎn):一、樣品準(zhǔn)備 樣品選擇:選擇具有代表性的樣品,確保樣品能夠反映材料的整體特性。...
MORE2024-12-04
SEM掃描電鏡對于樣品有那些具體的要求
掃描電鏡對于樣品有一系列具體的要求,這些要求旨在確保樣品能夠在SEM掃描電鏡中獲得高質(zhì)量的圖像。以下是對這些要求的詳細(xì)歸納:一、導(dǎo)電性要求 導(dǎo)電樣品:如金屬等導(dǎo)電性能良好的樣品,可以直接進(jìn)行觀察。因為這類樣品能夠有效地防止電子積累,減少電荷效應(yīng),從而確保圖像質(zhì)量。...
MORE2024-12-03
SEM掃描電鏡導(dǎo)電性材料如何制備
SEM(掃描電子顯微鏡)樣品的制備過程對于確保觀測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性至關(guān)重要,特別是針對導(dǎo)電性材料的制備,需要注意以下幾點(diǎn):一、塊狀導(dǎo)電樣品的制備 樣品尺寸與固定:確保樣品的大小適合電鏡樣品底座的尺寸。...
MORE2024-12-02
SEM掃描電鏡在能源領(lǐng)域的應(yīng)用介紹
掃描電鏡(Scanning Electron Microscope)在能源領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,其高分辨率和多功能性使其成為研究和分析能源材料的重要工具。以下是對SEM掃描電鏡在能源領(lǐng)域應(yīng)用的詳細(xì)介紹:一、掃描電鏡的基本原理 SEM掃描電鏡利用高能電子束掃描樣品表面,通過檢測與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(如二次電子、背散射電子等)來獲取樣品表面的形貌和成分信息。這些信息可以用于表征樣品的物理和化學(xué)性質(zhì),為能源材料的研究和開發(fā)提供重要依據(jù)。...
MORE2024-11-29
SEM掃描電鏡在刑事偵察方面的應(yīng)用介紹
掃描電鏡(Scanning Electron Microscope)在刑事偵察方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用,其高分辨率、大景深和多種分析功能使其成為法醫(yī)物證分析的重要工具。以下是對SEM掃描電鏡在刑事偵察方面應(yīng)用的詳細(xì)介紹:一、法醫(yī)物證分析 纖維與毛發(fā)分析:掃描電鏡能夠清晰地區(qū)分人的頭發(fā)與動物的毛發(fā),甚至可以通過高倍放大觀察人發(fā)的細(xì)節(jié),如種族特征、是否經(jīng)過化學(xué)處理等。這對于犯罪現(xiàn)場遺留的毛發(fā)物證分析具有重要意義。...
MORE2024-11-28
SEM掃描電鏡如何觀察樣品的表面形貌
掃描電鏡是通過電子束掃描樣品表面,產(chǎn)生高分辨率的圖像,從而觀察樣品的表面形貌的。以下是SEM掃描電鏡觀察樣品表面形貌的詳細(xì)步驟和注意事項:一、樣品準(zhǔn)備 導(dǎo)電性處理:對于非導(dǎo)電樣品,通常需要進(jìn)行鍍膜處理,使用金、鉑等導(dǎo)電材料沉積一層薄膜,以避免電子積累(charging effect)干擾成像。...
MORE2024-11-27
SEM掃描電鏡樣品的處理過程介紹
掃描電鏡樣品的處理過程是確保成像效果的關(guān)鍵步驟,主要包括以下環(huán)節(jié):一、樣品準(zhǔn)備 取樣:根據(jù)需要觀察的樣品類型和特征,切取適當(dāng)大小和形狀的樣品。對于SEM掃描電鏡來說,所切取樣品比透射電鏡樣品稍大一些,通常為8~10mm2,高約5mm。同時,樣品應(yīng)具有代表性,能夠反映所研究材料的整體性能。...
MORE2024-11-26
SEM掃描電鏡塊狀樣品如何制備
掃描電鏡掃描塊狀樣品的制備方法主要根據(jù)樣品的導(dǎo)電性和大小來決定。以下是一個基本的制備流程:一、樣品準(zhǔn)備 選擇樣品:確保樣品的大小適合SEM掃描電鏡的樣品底座尺寸。如果樣品過大,可能需要進(jìn)行切割或鑲嵌處理。...
MORE2024-11-25
SEM掃描電鏡在礦物領(lǐng)域的應(yīng)用介紹
掃描電鏡在礦物領(lǐng)域的應(yīng)用十分廣泛,它提供了高分辨率的成像能力,使得研究人員能夠深入觀察礦物的微觀結(jié)構(gòu)和成分。以下是對SEM掃描電鏡在礦物領(lǐng)域應(yīng)用的詳細(xì)介紹:一、礦物形貌觀察 掃描電鏡能夠清晰地展示礦物的微觀形貌,包括晶體的形態(tài)、大小、生長特征以及表面紋理等。這些形貌特征對于鑒定礦物種類、研究礦物成因和演化過程具有重要意義。...
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